На основе этого эффекта создан прибор для измерения ско-
рости супертанкеров при швартовых операциях,, длина волны ис-
пользована малая (микроволновый сигнал). Очевидно подобный
прибор может быть использован и в других областях техники.
Патент США 3 555 899: Установка для ультразвукового изме-
рения расхода жидкостей в трубопроводе. Имеется устройство для
создания двух траекторий распространения ультразвука между
противоположными боковыми стенками трубопровода и устройство,
которое направляет эти траектории таким образом, что они рас-
полагаются в плоскости, проходящей через параллельно продоль-
ные прямые, и наклонены к обоим прямым под взаимно дополняющи-
ми углами. Установка имеет устройство, которое посылает
ультразвуковые колебания в двух противоположных направлениях
по каждой из двух траекторий. Расход определяется путем изме-
рения скорости распространения колебаний по направлению потока
и навстречу потоку и вычисления среднего значения разности
между указанными различными скоростями. Распространение звуко-
вых колебаний по одной траектории может быть обеспечено путем
отражения ультразвуковых колебаний, идущих по другой траекто-
рии.
Патент США 3 564 488: Прибор для измерения скорости дви-
жущихся обьектов, например, для измерения скорости движения
тела по рельсам. По одному из рельсов пускаются ультразвуковые
волны. В приборе имеется пьезоэлектрический преобразователь
который служит для обнаружения доплеровской частоты в отражен-
ном сигнале, исходящеи от точки, расположенной вблизи места
контакта движущегося тела с рельсом. Частота Допплера исполь-
зуется для измерения скорости движущегося по рельсам обьекта.
5.4.3. Поляризация.
Поляризация волн - нарушение осевой симметрии поперечной
волны относительно направления распространения этой волны. В
неполяризованной волне колебания (векторов смешения и скорости
частиц среды в случае упругих волн или векторов напряженностей
электрического и магнитного полей в случае электромагнитных
волн) в каждой точке пространства по всевозможным направлениям
в плоскости, перпендикулярной направлению распрстранения вол-
ны, быстро и беспорядочно сменяют друг друга так, что ни одно
из этих направлений колебаний не является преимущественным.
Поперечную волну называют поляризованной, если в каждой точке
пространства направление колебаний сохраняется неизменным (ли-
нейнополяризованным) или изменяется с течением времени по оп-
ределенному закону - (циркулярно или элептическиполяризован-
ной).
Поляризация может возникнуть вследствие отсутствия осевой
симметрии в возбуждающем волну излучателе (например, в лазе-
рах), при отражении и приломлении волн на границе двух сред
(наибольше степень поляризации имеет место при отражении под
углом Брюстера тангенс угла равен коэффициенту преломления от-
ражающей среды) при рапространении волны в анизотропной среде.
А.с. 269 588: Способ определения стойкости стекла в спаях
с металлом к электролизу, состоящий в том, что через термоста-
тированный образец пропускается электрический ток, причем нап-
ряжение питающего источника остается постоянным, и измеряют
величину тока, проходящего через образец, отличающийся тем,
что с целью повышения точности наблюдений, о ходе процесса
электролиза судят по измерению картины механических напряжений
в местах спая с металлом, наблюдаемой в лучах поляризованного
света.
А.с. 452 786: Способ магнитного контроля ферромагнитных
материалов, заключающийся в том, что на поверхность предвари-
тельно намагниченного материала наносят индикатор и по рисун-
ку, образованному под воздействием полей рассеяния, судят о
качестве изделия, отличающийся тем, что с целью повышения его
чувствительности, в качестве индикатора используют монокрис-
таллическую пленку магний-марганцевого феррита с полосовой до-
менной структурой, а изменение состояния индикатора наблюдают
в поляризованном свете.
А.с. 221 345: Способ контроля кристаллизации кондитерских
масс, например, ирисной, в процессе производства путем микрос-
копирования исследуемого образца, отличающийся тем, с целью
повышения точности контроля, микроскопирование осуществляют в
проходящем поляризованном световом луче с измерением при этом
интенсивности светового потока с последующим определением со-
держания кристаллов.
А.с. 249 025: Способ оценки распределния контактных нап-
ряжений по величине деформации пластичной прокладки, распола-
гаемой в зоне контакта между соприкосающимися поверхностями,
отличающийся тем, что с целью повышения точности, в качестве
пластичной прокладки используют пленку из оптически чувстви-
тельного материала, которую затем просвечивают поляризованным
светом в направлении действия контактных сил, и по картине по-
лос судят о распределении контактных напряжений.
5.4.4. Вобщем случае д и ф р а к ц и я - это отлонения
волновых движений от законов геометрической /прямолучевой/ оп-
тики. Если на пути распространения волны имеется препятствие,
то на краях препятствия наблюдается огибание волной края. Если
размеры препятствия велики по сравнению с длиной волны, то
распрстранение волны почти не отклоняется от прямолинейного,
т.е. дифракционные явления не значительны. Если же размеры
препятствия сравнимы с длиной волны, то наблюдается сильное
отклонение от прямолинейного распространения волнового фронта.
При совсем малых размерах препятствия волна полностью его оги-
бает - она "не замечает" препятствия. Очевидно, величина отк-
лонения /количественная характеристика дифракции/ при заданном
препятствии будет зависеть от длины волны; волны с большей
длиной будут сильнее огибать препятствие.
Такое разделение волны используется в дифракционных
спектроскопах, где белый свет /совокупность волн различной
длины/ располагается в спектр с помощью дифракционной решетки-
системы частых полос.
В авторском свидетельстве N'249 468 изменение дифракцион-
ной картины при изменении размеров препятствий использовано
для градировки магнитного поля, под действием которого изменя-
ются параметры ферромагнитной пленки с полосовой доменной
структурой: Способ градировки магнитного поля спомощью этало-
на, отличающийся тем, что с целью повышения точности и упроще-
ния процесса градуровки эталон, в качетве которого использова-
на тонкая ферромагнитная пленка с полосовой доменной
структурой, на которую нанесен магнитный коллоид, намагничива-
ют под определенным углом к направлению силовых линий градуи-
руемого поля, освещают его светом и наблюдают диффрагировавший
на эталоне луч света, затем увеличивают градуируемое поле по
величине, при которой исчезает наблюдаемый луч, сопоставляют
эту величину с известным значением поля переключения эталона.
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72